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解决方案


用于半导体封装工艺中的芯片键合解析

阅读量: 1619次 发布时间:2023-11-07 13:09:01

  )上的一道工艺。引线键合(wire bonding)则作为芯片键合的下道工序,是保证电信号传输的一个进程。wire bonding是最常见一种键合办法。

  Wire Bond/金线键合:指在对芯片和基板间的胶粘剂处理以使其有更好的粘结功能后,用高纯金线把芯片的接口和基板的接口键合。

  一、 意图:树立根本的 wire bonding 规范,拟定出产的悉数进程中产品合格/不合格的判别规范。

  三、 根本焊接条件:热压超声波焊接用于金线键合,所需的温度、压力、超声波功率及时刻视不同机型、不一样的资料有很大不同,详细依据机型、资料特性科学设定。

  ① 球的直径:以2.5φ-3.5φ为规范 ,低于2.5φ为球小,大于3.5φ为球大。

  ② 球的厚度:以0.5φ-1.5φ为规范,低于0.5φ为球扁,大于1.5φ为球厚。

  ④ 跪线:如下图所示,圆圈处所指的金线贴在焊接外表上为跪线,不行承受。规范线形为圆圈处所指的金线与焊接外表应有必定视点。

  ① 焊口:长为0.8φ—1.5φ,宽为1.5φ—2.5φ,且瓷咀印有必要完好,超出此

  ③ 虚焊、脱焊:焊球与Die面触摸,焊口与Frame 外表触摸,拉力测验为0时为虚焊;焊球或焊口中有一个不与焊接外表触摸时为脱焊。如下图所示

  pad方位内或刚好压在 Pad 边上,超出pad方位为球走位。焊口走位:焊点须在PCB金手指内,焊口离金手指边至少 1φ。超出金手指 为焊口走位。

  ① 拉力测验办法:拉力测验时以接近焊球金线弧形最高处为基准,如下图所示:

  补白:23、23J 为同一直径的金线 产品 Wire bonding 时有两个引线方向,方向不同金线的控制拉力不同,用J来区别,其他类同。

  ③ 推球不良:推球时运用推球机做推力试验,推球力至少16g以上,金线%,不满足此标准为推球不良。

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